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蘇州致晟光電科技有限公司作為光電技術領域創新先鋒,依托南京理工大學–光電技術學院的科研優勢,構建產學研深度融合的技術研發體系。我司專注于微弱信號處理技術深度開發與場景化應用,已成功推出多系列光電檢測設備及智能化解決方案。 致晟光電秉承著以用戶的實際需求為錨點,將研發與需求緊密結合,致力于為客戶創造實用、易用且高附加值的產品。我司通過自主創新,追求用戶體驗,為企業提供從生產線到實驗室完備的失效分析解決方案。

蘇州致晟光電科技有限公司公司簡介

鎖相微光顯微鏡原理 服務為先 蘇州致晟光電科技供應

2025-07-15 02:23:37

半導體材料分為直接帶隙半導體和間接帶隙半導體,而Si是典型的直接帶隙半導體,其禁帶寬度為1.12eV。所以當電子與空穴復合時,電子會彈射出一個光子,該光子的能量為1.12eV,根據波粒二象性原理,該光子的波長為1100nm,屬于紅外光區。通俗的講就是當載流子進行復合的時候就會產生1100nm的紅外光。這也就是產生亮點的原因之一:載流子復合。所以正偏二極管的PN結處能看到亮點。如果MOS管產生latch-up現象,(體寄生三極管導通)也會觀察到在襯底處產生熒光亮點。紅外成像可以不破壞芯片封裝,嘗試定位未開封芯片失效點并區分其在封裝還是 Die 內部,利于評估芯片質量。鎖相微光顯微鏡原理

當芯片內部存在漏電缺陷,如結漏電、氧化層漏電時,電子-空穴對復合會釋放光子,微光顯微鏡(EMMI)能捕捉并定位。對于載流子復合異常情況,像閂鎖效應、熱電子效應引發的失效,以及器件在飽和態晶體管、正向偏置二極管等工作狀態下的固有發光,它也能有效探測,為這類與光子釋放相關的失效提供關鍵分析依據。

而熱紅外顯微鏡則主要用于排查與熱量異常相關的芯片問題。金屬互聯短路、電源與地短接會導致局部過熱,其可通過檢測紅外輻射差異定位。對于高功耗區域因設計缺陷引發的電流集中導致的熱分布異常,以及封裝或散熱結構失效造成的整體溫度異常等情況,它能生成溫度分布圖像,助力找出熱量異常根源。 高分辨率微光顯微鏡對比微光顯微鏡的自動瑕疵分類系統,可依據發光的強度、形狀等特征進行歸類,提高檢測報告的生成效率。

選擇國產 EMMI 微光顯微鏡,既是擁抱技術自主,更是**占效率與成本的雙重優勢!致晟光電全本土化研發實力,與南京理工大學光電技術學院深度攜手,致力于光電技術研究和產業化應用,充分發揮其科研優勢,構建起產學研深度融合的技術研發體系。

憑借這一堅實后盾,我們的 EMMI 微光顯微鏡在性能上實現更佳突破:-80℃制冷型探測器搭配高分辨率物鏡,輕松捕捉極微弱漏電流光子信號,漏電缺陷定位精度與國際設備同步,讓每一個細微失效點無所遁形。

例如,當某批芯片在測試中發現漏電失效時,我們的微光顯微鏡能定位到具體的失效位置,為后續通過聚焦離子束(FIB)切割進行截面分析、追溯至柵氧層缺陷及氧化工藝異常等環節提供關鍵前提??梢哉f,我們的設備是半導體行業失效分析中定位失效點的工具,其的探測能力和高效的分析效率,為后續問題的解決奠定了不可或缺的基礎。

在芯片研發階段,它能幫助研發人員快速鎖定設計或工藝中的隱患,避免資源的無效投入;在量產過程中,它能及時發現批量性失效的源頭,為生產線調整爭取寶貴時間,降低損失;在產品應用端,它能為可靠性問題的排查提供方向,助力企業提升產品質量和市場**。無論是先進制程的芯片研發,還是成熟工藝的量產檢測,我們的設備都以其獨特的技術優勢,成為失效分析流程中無法替代的關鍵一環,為半導體企業的高效運轉和技術升級提供有力支撐。 當二極管處于正向偏置或反向擊穿狀態時,會有強烈的光子發射,形成明顯亮點。

微光顯微鏡的原理是探測光子發射。它通過高靈敏度的光學系統捕捉芯片內部因電子 - 空穴對(EHP)復合產生的微弱光子(如 P-N 結漏電、熱電子效應等過程中的發光),進而定位失效點。其探測對象是光信號,且多針對可見光至近紅外波段的光子。熱紅外顯微鏡則基于紅外輻射測溫原理工作。芯片運行時,失效區域(如短路、漏電點)會因能量損耗異常產生局部升溫,其釋放的紅外輻射強度與溫度正相關。設備通過檢測不同區域的紅外輻射差異,生成溫度分布圖像,以此定位發熱異常點,探測對象是熱信號(紅外波段輻射)。支持自定義檢測參數,測試人員可根據特殊樣品特性調整設置,獲得較為準確的檢測結果。高分辨率微光顯微鏡設備制造

我司設備面對閘極氧化層缺陷,微光顯微鏡可檢測其漏電,助力及時解決相關問題,避免器件性能下降或失效。鎖相微光顯微鏡原理

失效背景調查就像是為芯片失效分析開啟 “導航系統”,能幫助分析人員快速了解芯片的基本情況,為后續工作奠定基礎。收集芯片型號是首要任務,不同型號的芯片在結構、功能和特性上存在差異,這是開展分析的基礎信息。同時,了解芯片的應用場景也不可或缺,是用于消費電子、工業控制還是航空航天等領域,不同的應用場景對芯片的性能要求不同,失效原因也可能大相徑庭。

失效模式的收集同樣關鍵,短路、漏電、功能異常等不同的失效模式,指向的潛在問題各不相同。比如短路可能是由于內部線路故障,而漏電則可能與芯片的絕緣性能有關。失效比例的統計也有重要意義,如果同一批次芯片失效比例較高,可能暗示著設計缺陷或制程問題;如果只是個別芯片失效,那么應用不當的可能性相對較大。 鎖相微光顯微鏡原理

蘇州致晟光電科技有限公司匯集了大量的優秀人才,集企業奇思,創經濟奇跡,一群有夢想有朝氣的團隊不斷在前進的道路上開創新天地,繪畫新藍圖,在江蘇省等地區的機械及行業設備中始終保持良好的信譽,信奉著“爭取每一個客戶不容易,失去每一個用戶很簡單”的理念,市場是企業的方向,質量是企業的生命,在公司有效方針的領導下,全體上下,團結一致,共同進退,齊心協力把各方面工作做得更好,努力開創工作的新局面,公司的新高度,未來蘇州致晟光電科技供應和您一起奔向更美好的未來,即使現在有一點小小的成績,也不足以驕傲,過去的種種都已成為昨日我們只有總結經驗,才能繼續上路,讓我們一起點燃新的希望,放飛新的夢想!

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